柯瑪測試股份有限公司於2023年台北國際電子展示最新測試解決方案
桃園, 2023年10月24日 — 今年在台北國際電子展(TAITRONICS)從10月25日至27日舉行期間,Chroma將在台北南港展覽館1F B展台J1127展示各式測試解決方案。
Chroma 11090-030 RF LCR Meter 提供高頻測量和評估解決方案,如SMD芯片電感和RF濾波器等被動元件。它的測試頻率高達300MHz,不僅滿足元件如POL或小型DC-DC轉換器的面值頻率測試需求,也可以檢測只能在超高頻下才能發現的品質異常。此外,它也可以滿足100MHz阻抗測試,如EMI濾波器和鐵粉珠等元件的常見需求。它提供了市場上少有的替代方案。
大部分鋰離子電池火災發生在充電過程中。主要原因是大多數鋰離子電池使用的負極材料在反覆充放電循環後會繼續膨脹,導致正極和負極之間的距離逐漸縮短。當電極之間的有效絕緣距離小於設計值時,由於電極毛邊或金屬粒子等原因,可能導致內部短路。
電池芯生產檢測中常見的兩個問題是乾電池(捲筒)絕緣測試電壓過低(<350V)和未能檢測到由於電極毛邊或金屬粒子引起的電弧。Chroma 11210 Battery Cell Insulation Tester具有獨特的電弧檢測技術和+Flash Test功能,可以在電解液注入前測量鋰離子電池(乾電池)有效絕緣距離是否足夠,並檢測任何異常漏電。這可以為電池芯提供完整的質量測試,不僅可以防止絕緣性不良的產品進入最終市場,也是提高電池安全性和減少火災風險的好工具。
功率半導體器件(如IGBTs,SiC-MOSFETs)廣泛應用於高功率/大電流的電源轉換/控制電路中,隔離器(如光耦合器,數字隔離器)則用於需要隔離兩端(即主側和次側)電壓差異的環境中。由於這些元件之間可能出現較高的電壓差或電位差,確保它們在正常工作條件下能維持良好的絕緣性,且無持續的局部放電(PD)導致絕緣性下降,尤為重要。Chroma 19501 Series Partial Discharge Tester符合IEC 60270-1規定的PD測量要求,儀器中設計的測試方法也符合相關規定。它可以提供AC Hipot測試(最大10kVac)和局部放電測量(最大6000pC),可以有效確保功率半導體器件和隔離器長期操作的品質和可靠性。
我們誠摯邀請您前往我們的B展台J1127親身體驗TAITRONICS 2023新趨勢測試與測量。